Materiaalien rakenne-, koostumus- ja alkuaineanalyysit
Rakenne-, koostumus- ja alkuaineanalyysit ovat tärkeitä työkaluja materiaalien ominaisuuksien ymmärtämisessä, tuotekehityksessä, vaurioanalyyseissä ja laadunvalvonnassa.
Kohti laadukkaampia ja kestävämpiä tuotteita
Nanometritason tarkkuudella
Käytössämme on monipuolinen ja korkealaatuinen laitekanta. Tärkeimmät testimenetelmämme ovat:
- mikroskopia
- pyyhkäisyelektronimikroskopia (SEM)
- energiadispersiivinen spektrometria –analyysit (EDS)
- mikrotomografia (MicroCT) varustettuna lämpö- ja kuormituselementeillä
- materiaalien kemiallisen koostumuksen analysointi (FTIR)
- röntgenfluoresenssianalyysit (XRF).
Kuvia erilaisista materiaaleista, jotka on otettu Hitachi S-4800 SEM –pyyhkäisyelektronimikroskoopilla. Atomien järjestäytyminen on ihmeellinen asia. Klikkaamalla kuvaa, se avautuu uudelle välilehdelle.
Mikpoliksen yleisimmät analyysilaitteistot, jotka soveltuvat pääosin solidien materiaalien tutkimuksiin:
- Leica MZ 16 –stereomikroskooppi, johon on kytketty Leica DFC280 -mikroskooppikamera
- Hitachi S-4800 SEM –pyyhkäisyelektronimikroskooppi
- XFlash 7 –EDS-detektori liitettynä Hitachi S-4800 SEM -pyyhkäisyelektronimikroskooppiin
- Neoscan CTS N80 –mikrotomografialaite
- Nicolet 4700 -Fourier-transformaatio-infrapunaspektrometri (FTIR)
- Innov-X Handheld XRF -analysaattori.
Alkuaineanalyyseissä käyttämämme yleisimmät standardit:
- ASTM E 1508
- ASTM E 1621
Osaavat asiantuntijamme
